Julgue os itens a seguir, relativos às técnicas de caracterização de superfícies...

Questão de Física da banca CESPE CEBRASPE aplicada no concurso CTI (2008). Confira a resolução completa abaixo:

Julgue os itens a seguir, relativos às técnicas de caracterização de superfícies e de caracterização elétrica de semicondutores.

A microscopia de força atômica oferece a possibilidade de observação da superfície do material em escalas nanométricas somente para materiais condutores e semicondutores, enquanto que a microscopia por tunelamento pode examinar as topografias da superfície de materiais condutores e não-condutores.