A elipsometria espectral pode ser utilizada para análise de oxidação e corrosão em semicondutores. Assinale a alternativa que descreve o princípio dessa técnica de análise. A) O espectro de emissão de fótons característicos de átomos ionizados é uma elipse característica de cada elemento ou substância. B) Os elétrons arrancados da superfície de uma amostra descrevem uma trajetória elíptica característica. C) Baseia-se a técnica na mudança de polarização da luz após a reflexão. D) Baseia-se a técnica na análise de elétrons Auger por um analisador elíptico. E) Baseia-se na absorção diferenciada da radiação polarizada em função da razão entre os eixos maior e menor de uma elipse.

C) Baseia-se a técnica na mudança de polarização da luz após a reflexão.

A elipsometria espectral pode ser utilizada para análise de oxidação e corrosão em semi...

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1Q544612 | Física, FUNRIO

A elipsometria espectral pode ser utilizada para análise de oxidação e corrosão em semicondutores. Assinale a alternativa que descreve o princípio dessa técnica de análise.

✂️ a) O espectro de emissão de fótons característicos de átomos ionizados é uma elipse característica de cada elemento ou substância.
✂️ b) Os elétrons arrancados da superfície de uma amostra descrevem uma trajetória elíptica característica.
✂️ c) Baseia-se a técnica na mudança de polarização da luz após a reflexão.
✂️ d) Baseia-se a técnica na análise de elétrons Auger por um analisador elíptico.
✂️ e) Baseia-se na absorção diferenciada da radiação polarizada em função da razão entre os eixos maior e menor de uma elipse.