Observe as afirmativas abaixo. I – A amostra sob análise é submetida a um bombardeamento por um feixe de íons. II – A amostra analisada é submetida a um feixe de elétrons. III – Pode ser realizada em analisadores de massa de tempo de voo. IV – Baseia-se na radiação emitida pela amostra após interagir com o feixe de raio-X. As sentenças que se referem à espectrometria de massa por íons secundários são expressas na alternativa A) Sentenças I, II, III. B) Sentenças I e II. C) Sentenças III e IV. D) Sentenças I e III. E) Sentenças II e IV.

Observe as afirmativas abaixo. I – A amostra sob análise é submetida a um bombardeament...

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