Nos circuitos integrados, deseja-se determinar a fase em que se encontram os silicetos, utilizando-se, para isso, a difratografia por raios-X. Essa técnica permite determinar A) o estiramento das moléculas. B) a densidade areal do filme. C) a composição física do filme. D) a estrutura do filme formado. E) a microestrutura do filme formado.

D) a estrutura do filme formado.

Nos circuitos integrados, deseja-se determinar a fase em que se encontram os silicetos,...

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