Abaixo são citadas algumas características e aplicações da técnica de feixes de íons focalizados. Assinale a alternativa que NÃO está relacionada a essa técnica. A) Proporciona imageamento de alta resolução e capacidade de micro-usinagem. B) É aplicada na indústria de semicondutores para reparo e mascaramento de circuitos. C) As imagens obtidas por microscopia eletrônica de varredura fornecem um contraste, para cristais com diferentes orientações, mais pobre do que a microscopia por feixe de íons focalizados. D) Quanto maior for a densidade de uma amostra, mais elétrons secundários induzidos por íons serão gerados. E) Um dos defeitos provocados pelo feixe de íons é a amorfização, observada somente em materiais metálicos.

E) Um dos defeitos provocados pelo feixe de íons é a amorfização, observada somente em materiais metálicos.

Abaixo são citadas algumas características e aplicações da técnica de feixes de íons fo...

Responda: Abaixo são citadas algumas características e aplicações da técnica de feixes de íons focalizados. Assinale a alternativa que NÃO está relacionada a essa técnica.

1Q545871 | Física, FUNRIO

Abaixo são citadas algumas características e aplicações da técnica de feixes de íons focalizados. Assinale a alternativa que NÃO está relacionada a essa técnica.

✂️ a) Proporciona imageamento de alta resolução e capacidade de micro-usinagem.
✂️ b) É aplicada na indústria de semicondutores para reparo e mascaramento de circuitos.
✂️ c) As imagens obtidas por microscopia eletrônica de varredura fornecem um contraste, para cristais com diferentes orientações, mais pobre do que a microscopia por feixe de íons focalizados.
✂️ d) Quanto maior for a densidade de uma amostra, mais elétrons secundários induzidos por íons serão gerados.
✂️ e) Um dos defeitos provocados pelo feixe de íons é a amorfização, observada somente em materiais metálicos.