No que se refere à microscopia de força atômica pode-se afirmar que

✂️ a) só pode ser utilizada para análise de materiais condutores.

✂️ b) a energia cedida para a emissão do feixe de elétrons é igual a do feixe.

✂️ c) a energia do feixe de elétrons deve ser maior que a força de ligação interatômica.

✂️ d) um microscópio de força atômica utiliza corrente de tunelamento para a formação das imagens.

✂️ e) o microscópio de força atômica fornece um perfil de superfície tridimensional.

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