1Q592008 | Química, FUNRIOPara verificar erros de alinhamento em dispositivos, podem ser utilizados dispositivos ✂️ a) elétricos simples e medidas de resistência. ✂️ b) observados do posicionamento da porta do transistor MOS. ✂️ c) alternativos além das marcas de alinhamento. ✂️ d) por interferometria ótica. ✂️ e) por microscopia holográfica. Resolver questão 🗨️ Comentários 📊 Estatísticas 📁 Salvar 🧠 Mapa Mental 🏳️ Reportar erro