No contexto de design for debug and diagnosis (DFD), faz-se as seguintes afir...

No contexto de design for debug and diagnosis (DFD), faz-se as seguintes afirmações. I. O processo de diagnóstico e debug exige um alto grau de controlabilidade e observabilidade dos nós internos de um circuito de forma que muitas das técnicas de DFT como scan são ajustadas para este fim. Exemplos deste tipo de técnicas especialmente ajustadas para diagnóstico e debug são blocos lógicos e sinais de relógio reconfiguráveis. II. A única forma de extrair as informações de debug e diagnóstico é através de cadeias de scan dedicadas para isto. III. Pode-se empregar de focused ion beam (FIB) para a edição ou pequenos consertos em um circuito integrado visando isolar ou corrigir possíveis defeitos.