1Q789041 | Engenharia Elétrica, Princípios de Ciências dos Materiais, FUNRIOExecutando-se a espectroscopia de massa do íon secundário (SIMS) de uma estrutura implantada, consegue-se obter ✂️ a) o perfil de implantação na lâmina. ✂️ b) a oxidação da lâmina. ✂️ c) a deposição de um filme fino sobre a lâmina. ✂️ d) a limpeza da lâmina. ✂️ e) os defeitos na lâmina. Resolver questão 🗨️ Comentários 📊 Estatísticas 📁 Salvar 🧠 Mapa Mental 🏳️ Reportar erro