Em aplicações onde são usadas técnicas de DFT baseadas em BIST – built-in self test deve-se ter especial atenção ao processo de aplicação do teste em si. No caso de memórias, uma das técnicas aplicadas para o auto-teste em baixa potência é: A) O espaçamento entre os ciclos de leitura e escrita. B) A aplicação do teste no tempo em que a memória não está sendo acessada. C) A modificação dos testes convencionais de memória reordenando o endereçamento para evitar ao máximo as transições nas linhas de endereço sem perder a cobertura de falhas. D) O emprego do menor número de transições nos bits da memória. E) Nenhuma das descritas anteriormente.

C) A modificação dos testes convencionais de memória reordenando o endereçamento para evitar ao máximo as transições nas linhas de endereço sem perder a cobertura de falhas.

Questões Engenharia Elétrica Eletrônica Digital

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1Q790089 | Engenharia Elétrica, Eletrônica Digital, FUNRIO

Em aplicações onde são usadas técnicas de DFT baseadas em BIST – built-in self test deve-se ter especial atenção ao processo de aplicação do teste em si. No caso de memórias, uma das técnicas aplicadas para o auto-teste em baixa potência é:

✂️ a) O espaçamento entre os ciclos de leitura e escrita.
✂️ b) A aplicação do teste no tempo em que a memória não está sendo acessada.
✂️ c) A modificação dos testes convencionais de memória reordenando o endereçamento para evitar ao máximo as transições nas linhas de endereço sem perder a cobertura de falhas.
✂️ d) O emprego do menor número de transições nos bits da memória.
✂️ e) Nenhuma das descritas anteriormente.