Q782010 | Engenharia de Telecomunicações, Eletrônica analógica e digital, FUNRIOSobre o IR Drop e as técnicas para a minimização do seu impacto, é correto afirmar o seguinte: a) É um efeito decorrente do alto consumo de potência pois as fontes de alimentação não suportam o alto consumo de corrente, reduzindo o nível de tensão nas células. Pode ser minimizado com um melhor planejamento das linhas de alimentação. b) Causa uma redução na tensão de alimentação em certas regiões do chip e eleva a tensão do terra (ground bounce). Pode ser minimizado com a inserção de capacitores entre as linhas de alimentação. c) Modifica as características dos atrasos nas células, o que incorre em resultados diferentes para a análise temporal. Pode ser resolvido adicionando diodos nas linhas de alimentação. d) Aumenta o atraso nas interconexões devido ao aumento da carga de cada célula que é alimentada por esse sinal. Pode-se minimizar usando as camadas superiores de metalização para reduzir as resistências parasitas. e) O aumento da resistência interna das células devido às correntes causa uma redução na tensão de alimentação das mesmas. Pode ser minimizado com o aumento da espessura dos metais de alimentação nas camadas de metalização inferiores. Resolver questão 🗨️ Comentários 📊 Estatísticas 📁 Salvar 📎 Anexos 🏳️ Reportar erro