No que se refere ao microscópio eletrônico de varredura (MEV), assinale a opção correta. A) A espessura de uma amostra de osso a ser analisada pelo MEV não pode ser superior a 100 nm. B) Como encontram-se dentro do espectro visível, os sinais gerados por fótons no MEV são adquiridos sem o emprego de um detector apropriado. C) Os elétrons secundários (ES) são uma interferência comum na geração de imagens, motivo pelo qual o detector deve ser calibrado para suprimir os sinais originados pelos ES. D) O aspecto tridimensional observado nas imagens obtidas no MEV é resultado da captação do feixe de elétrons em dois ângulos distintos, o que gera um efeito conhecido como estereoscopia. E) Em um MEV, a resolução está relacionada à dimensão da sonda de varredura.

E) Em um MEV, a resolução está relacionada à dimensão da sonda de varredura.

No que se refere ao microscópio eletrônico de varredura (MEV), assinale a opção correta.

No que se refere ao microscópio eletrônico de varredura (MEV), assinale a opção correta.

✂️ a) A espessura de uma amostra de osso a ser analisada pelo MEV não pode ser superior a 100 nm.
✂️ b) Como encontram-se dentro do espectro visível, os sinais gerados por fótons no MEV são adquiridos sem o emprego de um detector apropriado.
✂️ c) Os elétrons secundários (ES) são uma interferência comum na geração de imagens, motivo pelo qual o detector deve ser calibrado para suprimir os sinais originados pelos ES.
✂️ d) O aspecto tridimensional observado nas imagens obtidas no MEV é resultado da captação do feixe de elétrons em dois ângulos distintos, o que gera um efeito conhecido como estereoscopia.
✂️ e) Em um MEV, a resolução está relacionada à dimensão da sonda de varredura.