Questão: No que se refere ao microscópio eletrônico de varredura (MEV...

A espessura de uma amostra de osso a ser analisada pelo MEV não pode ser superior a 100 nm.

Como encontram-se dentro do espectro visível, os sinais gerados por fótons no MEV são adquiridos sem o emprego de um detector apropriado.

Os elétrons secundários (ES) são uma interferência comum na geração de imagens, motivo pelo qual o detector deve ser calibrado para suprimir os sinais originados pelos ES.

O aspecto tridimensional observado nas imagens obtidas no MEV é resultado da captação do feixe de elétrons em dois ângulos distintos, o que gera um efeito conhecido como estereoscopia.

Em um MEV, a resolução está relacionada à dimensão da sonda de varredura.